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掃描電子顯微鏡

產品名稱:Sigma 系列產品

產品簡介:結合了場發射掃描電子顯微鏡技術和高級分析性能,用于顆粒、表面和納米結構成像。Sigma 的4步半自動工作流程節省了大量的工作時間

靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能

將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。


Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器,可快速方便地實現基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。


纖維,在傷口護理中敷的抗菌藥

用于清晰成像的靈活探測

  • 利用先進探測術為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

  • 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

  • 利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

Sigma 的 4 步工作流程節省大量的時間

自動化加速工作流程

  • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中,從快速成像和節省培訓首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

  • 首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

  • 接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步,將結果可視化。

使用頂級的 EDS 幾何探測器加速 X 射線分析

高級分析型顯微鏡

  • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma 一流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。

  • 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。

  • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果。


Gemini 鏡筒的橫截面示意圖


基于成熟的 Gemini 技術


● Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響,并將場對樣品的影響降至更低。

    這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

● Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率,通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。

● Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪


Gemini 鏡筒和探測器的橫截面示意圖



用于清晰成像的靈活探測

● 利用新的探測技術表征所有的樣品。

● 在高真空模式下利用創新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。

● 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像。

● 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像。

● 利用 BSD4 或者 YAG 探測器進行成份分


蔡司Atlas 5-挑戰多尺度分析

Atlas 5可以簡化您的工作:以樣本為中心的關聯環境下為您創建多尺度、多模式的綜合圖片。Atlas 5集強大的硬件和易于操作的軟件為一體,大大拓展了蔡司掃描電鏡(SEM)的應用范圍。

 




可視化分析軟件

可視化及分析軟件

蔡司推薦您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro

此解決方案可為X射線,FIB-SEM,SEM以及氦離子顯微鏡獲取的三維數據進行可視化三維重構和分析。

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可視化技術和優異的圖形處理技術。Dragonfly Pro支持通過簡單易用的Python腳本進行定制。用戶可以完全掌控3D數據后期處理環境和流程


蔡司Sigma 300 可提供


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集成式 EDS 解決方案

在低能量分析應用中同時實現高清晰度成像

Sigma Element 是一種集成式 EDS 解決方案,擁有高可用性和低電壓靈敏度。僅需使用一臺計算機來控制 EDS 和 SEM,進而大大提升了該集成化解決方案的易用性。同時,借助專門為顯微鏡和 EDS 操作設計的用戶界面可實現并行控制。
? 集成化:通過集成化,結合高清晰成像與快速分析,從而獲得不錯結果
? 定制化:根據不同的用戶需求定制軟件
? 靈敏度:獨特的氮化硅窗口增強低能X射線的探測靈敏度
 

拉曼成像與掃描電鏡聯用系統

完全集成化的拉曼成像

獲取樣品中化學結構的指紋信息:聚焦拉曼光譜成像可擴展您的蔡司Sigma 300 掃描電鏡性能。 分析獲得樣品分子結構和結晶信息。 通過拉曼成像與EDS數據可進行3D 分析并與SEM圖像關聯。完全集成化的拉曼成像掃描電鏡聯用系統使你充分發揮SEM和拉曼系統的功能。


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