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軟件

產品名稱:Atlas 5

產品簡介:用于 SEM、FE-SEM & FIB-SEM大視野成像及專為蔡司顯微鏡設計的以樣本為中心的關聯工作流程

關聯多尺度圖像使得獲取電鏡圖片無比簡單。

Atlas 5可以簡化您的生活:以樣本為中心的相關環境下為您創建多尺度、多模式的綜合圖片。

Atlas 5集強大的硬件和軟件為一體,大大拓展了蔡司掃描電鏡(SEM)及蔡司聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)的應用范圍。無論您的圖像是來自光學顯微鏡還是X射線顯微鏡,您都可以信賴Atlas 5高效的瀏覽及關聯功能。充分利用其高效及自動化大面積成像的功能。獨特的工作流程將會幫助您獲取樣品更深層次的信息。

它的模塊化結構允許您根據需求進行調整。無論是在材料研究還是生命科學領域,它都將是您不可或缺的好幫手。


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自動成像軟件的用戶界面便捷易用,且基于工作流。

更簡單、更快捷地獲取電鏡圖片

     ●  無需操作員監管便可連續幾小時或幾天獨立獲取大量納米級的2D、

         3D電鏡圖片。

     ●  可對生物組織的數千切片進行連續采集, 或以數千張相鄰圖像拼接而

         成的馬賽克表征一大區域。

     ●  Atlas 5簡化了圖像獲取的全過程,通過預定義的成像方案及可定制的           規程來實現所獲圖像的一致性及可重復性。



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用Atlas 5關聯工作臺合并后的集成電路的光鏡及掃描電鏡樣本圖像。

關聯來源不同的圖像源

     ●  Atlas 5的關聯型工作臺使得關聯不同類型的光學圖像變得非常簡單。           可從整體的宏觀尺度到納米尺度逐步地觀察樣品。

     ●  Atlas 5可以高效地分析、關聯不同類型的光學圖像。如同您的數據中           心,無論圖像是來自于掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束掃描電鏡

         (FIB-SEM)、X射線顯微鏡、光學顯微鏡還是您的數碼相機,Atlas 5

          都可以高質量地完成圖像分析及關聯。

     ●  運用Atlas 5以樣品為中心的工作臺,您將可以創建無縫、多尺度、多           模式的圖像。



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植物組織的3D成像。樣品:感謝美國Delaware大學的J. Sherrier, J. Caplan 以及S. Modla。

通過創建獨特的工作流進一步地解析來更進一步了解您的樣品

     ●  運用Atlas 5的圖形用戶界面,從2D及3D層面全面了解您的樣品。

     ●  無論是簡單的任務還是綜合性實驗,Atlas 5都可根據實驗的復雜程

         度設計出準確的工作流程。

     ●  細致的工作流程將全程引導您完成圖像自動獲取的設置、后置處理、

         個性化輸出以及圖像分析。


生成鑲嵌大圖像

蔡司電子顯微鏡的Atlas 5配有16位的掃描發生器和雙超級樣品信號采集器,以及圖像處理與控制軟件。掃描電子顯微鏡所獲取的圖像像素可達32 k x 32 k,在聚焦離子束掃描電子顯微鏡中可達40 k x 50 k,駐留時間從100ns到100s以上(以100ns遞增可調),并可以以8位或16位保存圖像。

 

優勢所在

     ●  無需過多的拼貼就可以獲取高質量圖像并且降低了計算復雜性

     ●  加快了系統運行速度

     ●  無需過多的圖像拼接重合,保證樣本免受射束損傷

圖像獲取更加簡便

     ●  定義感興趣的區域,然后根據預設的成像條件對所選定區域進行掃描。通過制定流程和理想的成像條件,可實現令人滿意的重復結果。

     ●  在長時間的采集圖像過程中,借助先進的自動對焦和自動消象散可保持圖像的清晰度。

     ●  根據您的需求,可隨時隨地對樣本進行成像:Atlas 5支持在不同設備上進行多任務操作。

     ●  以樣品為中心的Atlas 5關聯工作站,可處理來至不同設備的二維圖像和三維數據。

     ●  可導入光鏡,X射線顯微鏡,電鏡或聚焦離子束顯微鏡圖像并校準以獲得單一的、一致的圖像。

關聯X射線顯微和FIB-SEM相應點

     ●  關聯ZEISS FIB-SEM觀察的表面特征點與ZEISS X射線顯微鏡掃描的相應特征點。

     ●  可使用X射線顯微鏡數據對3D的內部特征進行精確的定位,并使用于FIB中,即使不能原位的觀察到特征點。

     ●  然后可使用ZEISS FIB-SEM導航到相應的特征區域。


蔡司Atlas 5擁有多個子產品

了解蔡司Atlas 5各個模塊的特征及配置。通過選用Atlas 5來拓寬蔡司掃描電子顯微鏡和聚焦離子束掃描電子顯微鏡應用范圍。通過其他模塊的高級功能獲益并進一步了解它們整合的原理。

Atlas 5的模塊都是以Atlas 5為基礎的。對于陣列刻蝕,3D成像和NPVE軟件是需要高級工具包的。離線版高級工具包包含離線版的Atlas基礎版。

Atlas 5基礎

工作流導向的快速采集圖像平臺。關聯工作平臺可融合不同設備,探測器和位置。可導入原始及拼接圖像(BMP, JPG, TIF, CZI, TXM)。基于二維自動成像采集的協議。超大得存儲像素能夠達到32k x 32k, 100納秒, 8位/16位, 雙通道。xROI成像(精確的感興趣區域)。手動拼接二維馬賽克圖像。

高級工具包

導入不同的文件源及拼接圖像,高級圖像校正(梯度校正,徑向校正以及按通道校正),高級自動拼接,導出影像格式,導出至基于瀏覽器的圖像查看器用于網絡協議的數據交互。優化圖像采集程序。使用通道進行多通道數據的導出或混合。可在導向的工作流中檢閱整體圖像。高效地檢閱SEM的2D圖像并對有問題的圖像進行自動地重新采集。

陣列刻蝕

陣列刻蝕設置工具:用于截面定義的克隆工具,用于自動截面定義的截面對齊工具,用于定義子截面位置的高效管理工具。圖像堆棧瀏覽器以及圖像棧導出選項。

三維成像

三維雙束顯微鏡(FIB-SEM)成像包含自動樣品制備,感興趣區域的成像,先進的樣品追蹤,切割厚度的跟蹤,預設定的漂移矯正及圖像的自動調整。以及FIB-SEM圖像堆棧校準、裁剪和輸出功能的圖像堆棧觀察軟件。

高級的NPVE技術(先進的納米圖形發生器)

對幾何圖形和參數進行先行控制。同步控制離子束和電子束進行刻蝕與成像。對離子束智能控制的操作宏命令以及連續刻蝕和大面積沉積的GIS參數設置。優化實驗設計的參數設置、3D結構和陣列建立功能。也支持導入CAD文件(GDSII, DXF)進行刻蝕。


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